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納米粒度和zeta電位儀是用于測量溶液中顆粒表面電勢的儀器，也稱為zeta電勢儀。其原理基于電動勢測量方法，通過測量溶液中顆粒的運(yùn)動速度和電勢差，來計算顆粒表面的zeta電勢。在溶液中，顆粒會受到電場的作用而產(chǎn)生移動，其移動速度與其表面電勢...

選購顆粒球形度分析儀時，需要考慮以下幾個因素：1.測試范圍：不同顆粒球形度分析儀的測試范圍不同，需要根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的測試范圍。例如，一些儀器適用于粉末狀顆粒的測試，而另一些適用于顆粒的測試。2.測試精度：球形度分析儀的測試精度也是考慮...

電聲法zeta電位儀是利用地下結(jié)構(gòu)中的電阻率差異來探測地下層位和地質(zhì)特征。通過在地表上放置電極和震源，通過電流和聲波的相互作用，觀測地下的電位響應(yīng)。將一對電極(通常為釘狀電極)插入地下，形成一個電極對。其中一個電極作為發(fā)送電極，另一個電極作...

粒度粒形分析儀是一種用于測量顆粒的大小、形狀和分布的儀器。它主要利用了激光粒度原理、微分圖像處理技術(shù)等多種先進(jìn)的物理學(xué)、計算機(jī)科學(xué)及數(shù)學(xué)方法。通過衍射原理，使用激光發(fā)生器向樣品中射出激光光束，產(chǎn)生多次散射現(xiàn)象，檢測這些散射信號，借助光電轉(zhuǎn)換...

動態(tài)光散射納米粒度儀采用動態(tài)光散射原理，來測量顆粒粒徑大小的。用動態(tài)光散射原理來研制的納米激光粒度儀，其動態(tài)光散射原理建立在分散在液體顆粒的布朗運(yùn)動基礎(chǔ)之上，顆粒越小運(yùn)動越快，反之，顆粒越大，運(yùn)動越慢。具有不干擾，不破壞顆粒體系原有狀態(tài)的特...

納米粒度儀的工作原理是利用動態(tài)光散射法(DLS)，有時稱為準(zhǔn)彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術(shù)，可測量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，粒度可小于1nm。動態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子...

不溶性微粒儀檢查法系在可見異物檢查符合規(guī)定后，用以檢查溶液型靜脈用注射劑中不溶性微粒的大小及數(shù)量。本法包括光阻法和顯微計數(shù)法。除另有規(guī)定外。測定方法一般先采用光阻法；當(dāng)光阻法測定結(jié)果不符合規(guī)定或供試品不適于用光阻法測定時，應(yīng)采用顯微計數(shù)法進(jìn)...

粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布，導(dǎo)致接近表面抗衡離子(與粒子電荷相反的離子)濃度增加。于是，每個粒子周圍均存在雙電層。繞粒子的液體層存在兩部分：一是內(nèi)層區(qū)，稱為緊密層(Stern層)，其中離子與粒子緊緊地結(jié)合在一起；另...

選礦過程中，磨礦產(chǎn)品質(zhì)量的好壞直接影響選別作業(yè)的經(jīng)濟(jì)技術(shù)指標(biāo)，甚至影響產(chǎn)品的質(zhì)量。對于每一種礦石，磨礦產(chǎn)品都要求有一個經(jīng)濟(jì)合理的濃細(xì)度范圍。磨礦產(chǎn)品粒度過粗，單體解離程度不足或難以上浮，造成資源浪費(fèi)；磨礦產(chǎn)品粒度過細(xì)，會產(chǎn)生“過磨”現(xiàn)象，不...

動態(tài)光散射納米粒度儀是采用的動態(tài)光散射的原理，簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運(yùn)動導(dǎo)致的顆粒散射光的波動來實(shí)現(xiàn)粒徑的檢測?；驹硎牵盒☆w粒的布朗運(yùn)動速度快使得散射光波動快；大顆粒的布朗運(yùn)動速度慢導(dǎo)致散射光波動慢。光電探測器接收到散射光的波...