納米粒度儀的工作原理是利用動態(tài)光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，粒度可小于1nm。動態(tài)光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。
 

　　影響納米粒度儀測試結果的因素有哪些？
 

　　(1)復折射率
 

　　激光散射法粒度測量的對象一般是微米級的粒子，這些粒子的光學常數并不能簡單看成粒子材料的光學性質，而是指顆粒的復折射率n’，其定義為：n‘=n+ik。其中n為通常所說的折射率，虛部k表示光在介質中傳播時光強衰減的快慢，即吸收系數，有時也被稱作吸收率。
 

　　復折射率的選擇合適與否直接影響到粒度檢測結果的準確性與可靠性，但是影響待測顆粒復折射率的因素較多，難以確定其準確值，所以到目前為止在激光粒度測量領域中仍舊沒有確定復折射率的統(tǒng)一方法。在實際的粒度檢測過程中，一般只是對同種物質使用一個固定的復折射率，這樣的測量結果必然會與樣品的真實值有較大偏差。但是如果針對不同粒度區(qū)間的顆粒都去尋找其復折射率，卻又不現(xiàn)實的。
 

　　(2)折射率
 

　　Mie散射理論是麥克斯韋電磁方程組的嚴格解，激光法檢測的前提假設是粉體粒子是球形且各向同性的，大多數晶體在不同的方向上有不同的折射率。由于不同廠家的設備中光能探測器的數量、空間分布位置、靈敏度的不同也會導致檢測結果的差異。
 

　　(3)內置算法
 

　　由于光強分布的差異，不同粒度儀生產廠家所采用的軟件內置算法不同，造成系數矩陣的計算結果差異，由此給反演帶來不同程度的誤差。